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Nanofoot LD半导体激光器LFT老化系统
1. LFT 老化系统介绍
LFT半导体激光器老化系统是芬兰Nanofoot 公司专门为 LD 半导体激光器进行老化和寿命测试而生产制造，以提高 LD 激光器的质量和制造工艺。
该系统可工作于波长范围为800nm-16000nm，其采用专业 LFT 老化软件对 LD激光器（封装和未封装）的驱动电流、工作温度、输出电压和输出功率进行精确的控制与测量，系统可共享复用多测试仪器/设备，并提供多种不同类型的夹具和电流探针可同时对多路LD 激光器测试单元（封装和未封装）实施驱动，并保证各驱动电流相互独立互不影响；在测试过程中系统采用水冷和 TEC 等多种制冷方式为LD 激光器提供良好的散热机制和温度控制。
2. 系统结构
系统简介：
系统可同时实时测试 50 以上个 LD 激光器，可通过控制软件控制 LD 激光器（封装/未封装）控制器。通过软件设置对单个或一组（两个）LDD 激光器提供电流驱动，同时将监测到的 LD 激光器电压、温度、和功率输出至主机控制显示界面。通过垂直自动电位移系统，LFT 老化系统可复用光功率测试设备-积分球，并通过可外接分光光度计（sppectrometerr）或光谱仪（OSA）对 LD 激光器的输出光谱进行实时测量。
3．系统功能与可选组件
标准LFT老化系统配置 | 客户定制（可选） | |
工作波长 | 800nm-1600nm | - |
激光器测试单元数 | 16pcs | 1-50pcs |
激光器夹具 | I型激光器装载台（封装）：提供两个I型激光器加载盘，每个I型装载盘可安装16pcs的TO-46型激光器，加载盘固定与铝制衬底上，以方便系统对测试激光器进行电流、电压和温度的控制。 | 另可提供其它封装类型的夹具，如TO-can、CS、COS、蝶形激光器等封装形式 |
II型激光器装载台（未封装LD芯片）：提供一个II型激光器装载台，每个II型装载台可安装含16个激光器单元的激光棒（未解离），含16针的电流探针卡、探针微移动平台和激光芯片预安装标尺。 | 另可提供含32，48，64单元的激光棒的II型装载台 | |
激光驱动电流 | 标准电流注入方式（封装）：0-200 mA，提供电流过载保护 | - |
探针式电流注入（未封装LD芯片）：0-200 mA，提供电流过载保护 | - | |
激光电压输出 | LD激光器电压输出，精度16bit | |
激光电流输出 | LD激光器电压输出，精度16bit | |
激光功率输出 | 积分球&光电探测器，精度24bit，功率5mw-40mw | |
温度控制 | 水冷方式 | TEC方式 |
温度检测 | 激光器（封装）： ●LD激光器温度传感器（两测试单元复用一传感器） ●输入水温监测 ●输出水温监测 ●机柜空间环境温度监测 ●用户温度错误次数限制 | ●单个LD激光器温度测量（单个温度传感器） |
激光器（未封装LD芯片）:不能测试未封装LD芯片本身温度，只能测试LD芯片衬底温度。 | ||
检测设备 | ●采用积分球对激光器光功率进行测量， ●测试波长：800nm-1600nm ●激光器LIV参数测量（强度、电流、电压），电流扫描模式 ●单个电流功率测量 | ●提供分光光度计 (spectrometer) 激光器输出光谱 ●光谱仪(OSA)测试激光器输出光谱 ●FF scanner 360 测试激光器远场角 |
软件功能 | 提供实时互动友好显示界面 ●对每个测试单元进行激光器驱动和测量选项的配置 ●绘制LIV和激光器输出功率与时间结果图 ●CSV数据存储格式 ●测试过程中，提供实时激光器的关闭/暂停和开启功能。 | 采用SQL数据库对结果数据存储 ●对测试LIV和频谱数据进行派生分析 ●其它客户所需需求 |
机柜 | 立式铝合金机柜 |
4．系统参数指标
| 工作波长 | 800nm-1600nm (可调) |
| 驱动电流 | 0-200mA（可调）， 精度16bit |
| 驱动电压 | 0-2V（可调）， 精度 16bit |
| 输出功率（单个激光器） | 5-40mw |
| 温度控制 | 10°C ~150°C（可调） 温度精确度：+/- 0.5 °C 单个激光单元制冷功率：300mw/单元 |
| LD芯片电流注入探针尺寸 | 250um-350um（可选更小） |
| 工作电压 | 210V-230V/ 60 Hz |
5．备注
Figure.3 不同激光器封装结构的装载台
Figure 4. 激光器（封装）装载台制冷板 (1)，制冷板 (2). CoS-lasers封装类型激光器.
系统软件控制界面
Figure.5 激光器驱动工作参数动态设置
Figure.6 通用激光器设置和故障监控限制
Figure.7 激光器功率输出、LIV、波长曲线
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