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产品简介
高分辨率波前传感器
SID4-高分辨率波前传感器是适用测量光学需要。SID4易于实现超高分辨率。SID4-HR对整个测量对象提供瞬时测量法。
它能优化表面检验(粗糙度、高频缺陷等)和光学组件检测(透镜、物镜、非球面等)。
相机的高性能增加了激光检测的精度。
简洁紧凑相图抽样点（300 x 400）使SID4-HR成为研究和生产光学与激光独特的工具。
主要特点
• 高分辨率(400 x 300)
• 大孔径(8，9 mm x 11，8 mm)
• 高动态范围
• 大范围即时测量法
• **信噪比
• 操作简便
参数
孔径 | 8.9 x 11.8 mm² |
空间分辨率 | 29.6?um |
采样点 | 300 x 400 ( >120 000点) |
波长范围 | 400 - 1100 nm |
精度(**模式) | 10 nm |
灵敏度 | 2 nm |
动态范围 | > 500?um |
曲率半径 | 2 mm至+∞(标准20 mm) |
曲率半径灵敏度 | 1.10–³ m–¹ |
分割频率 | 3 fps |
采样频率 | 10 fps |
尺寸(l x H x L) | 76 x 63 x 132 mm |
重量 | 620 g |
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